其它/Others 牛津 X射线荧光测厚仪

    微聚焦XRF镀层测厚及材料分析光谱仪，可用于电镀、PVD和CVD操作的快速质量控制和验证测试，不论您在检测小配件、大组件或复杂配件，都能让您在几秒内轻松得到正确的结果。

    我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析，可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。

    优化的微聚焦硬件和直观的用户界面，简化了常规分析，提高了产出，使用“一键式”操作可确保Γ简单的培训就能同专业技术人员得到一样的结果。高级用户能容易地理解X荧光光谱，获得定制的校准和探索未知的材料。
X-Strata, Eco 和 MAXXI 系列产品是专为分析功能性镀层而设计的。

耐腐蚀性：验证所用涂料的厚度和化学性，以确保在恶劣环境中的产品功能和寿命。小的紧固件或大组件都可轻松处理。 

耐磨性：防止产品故障，确保在磨料环境中的关键部件的涂层厚度和均匀性。复杂的形状，薄或厚的涂层和成品都可以测量。

精饰电镀：一个完美的电镀，整个生产过程的质量控制是至关重要的。牛津仪器全系列检测设备，让您放心检验基材，测试中间和顶部镀层。

耐高温：在Γ极端的条件下操作的表面处理必须控制在严格的公差范围内。确保镀层符合规格，避免产品召回和潜在的灾难性故障。